更新時(shí)間:2024-02-27
DRK203 ISO4593-1993 機(jī)械掃描法薄膜薄片厚度儀,設(shè)備結(jié)構(gòu)科學(xué)合理,使用安全可靠,依據(jù)GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的測(cè)定—機(jī)械測(cè)量法》和ISO4593—1993《塑料—薄膜和薄片—用機(jī)械掃描法測(cè)定厚度》等標(biāo)準(zhǔn)研發(fā)制造。
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DRK203 ISO4593-1993 機(jī)械掃描法薄膜薄片厚度儀,設(shè)備結(jié)構(gòu)科學(xué)合理,使用安全可靠,依據(jù)GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的測(cè)定—機(jī)械測(cè)量法》和ISO4593—1993《塑料—薄膜和薄片—用機(jī)械掃描法測(cè)定厚度》等標(biāo)準(zhǔn)研發(fā)制造。
DRK203 ISO4593-1993 機(jī)械掃描法薄膜薄片厚度儀,設(shè)備是用機(jī)械測(cè)量法測(cè)定塑料薄膜和薄片厚度的儀器,但不是適用于壓花的薄膜和薄片。主要用于塑料薄膜、薄片、紙張、紙板的厚度測(cè)試,還可擴(kuò)展用于箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)試。
DRK203 GB/T6672-2001 機(jī)械掃描法薄膜薄片厚度儀, 技術(shù)參數(shù):
測(cè)量范圍:0~1mm
分度值:0.001mm
測(cè)頭端部的力:
(1)上測(cè)頭的測(cè)量面為¢6mm平面,下測(cè)頭為平面時(shí),測(cè)頭對(duì)試樣施加的力為0.5~1.0N;
(2)上測(cè)量面為(R15—R50)mm曲率半徑,下測(cè)頭為平面時(shí),測(cè)頭對(duì)試樣施加的力為0.1~0.5N;
注:因技術(shù)進(jìn)步更改資料,恕不另行通知,產(chǎn)品以后期實(shí)物為準(zhǔn)。
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